射线探伤是利用射线的穿透性和直线性来探伤的方法。这些射线虽然不会像可见光那样凭肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收i器来接收。常用于探伤的射线有同位素发出的γ射线，分别称为探伤和γ射线探伤。当这些射线穿过（照射）物质时，该物质的密度越大，射线强度减弱得越多，即射线能穿透过该物质的强度就越小。此时，若用照相底片接收，则底片的感光量就小；若用仪器来接收，无损检测设备，获得的信号就弱。因此，用射线来照射待探伤的零部件时，若其内部有气孔、夹渣等缺陷，射线穿过有缺陷的路径比没有缺陷的路径所透过的物质密度要小得多，其强度就减弱得少些，即透过的强度就大些，若用底片接收，则感光量就大些，就可以从底片上反映出缺陷垂直于射线方向的平面投影；若用其它接收i器也同样可以用仪表来反映缺陷垂直于射线方向的平面投影和射线的透过量。由此可见，一般情况下，射线探伤是不易发现裂纹的，或者说，射线探伤对裂纹是不敏感的。因此，射线探伤对气孔、夹渣、未焊透等体积型缺陷敏感。即射线探伤适宜用于体积型缺陷探伤，而不适宜面积型缺陷探伤。
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粉探伤仪适用于零件表面的探伤，主要适用于湿磁粉法检测曲轴、凸轮轴、花键轴等各种中小型零件的表面及近表面因铸造、淬火、加工、疲劳等原因引起的裂纹及细微缺陷，是单件检测，小批抽检，大批量检测的首i选机型。
对于一物体，其内部是否存在气孔、夹杂、疏松、裂纹、偏析、未焊透和熔合不足等缺陷是我们用肉眼无法观察到的，这时探伤仪便发挥其功能，帮助我们检测缺陷。那么超声波探伤仪和x射线探伤仪的区别是什么？
超声波探伤仪是一种利用超声波来探测物体内部有无缺陷的仪器，可检测缺陷、定位缺陷、评估缺陷和诊断缺陷等多种功能。
x射线探伤仪能穿透一般可见光不能透过的物质。其穿透能力的强弱与x射线的波长以及被穿透物质的密度与厚度有关。x射线波长愈短，穿透力就愈大；密度越低，厚度愈薄，则x射线愈易穿透。
超声波探伤仪周期短、成本低、对人体没有伤害，超声波探伤适用于厚度较大的零件检验。x射线探伤仪成像直观，影像可以长期保存，探伤灵敏度高，对体积状缺陷敏感，缺陷影像的平面分布真实、尺寸测量准确，对被检测物表面没有---要求，材料晶粒度对检测结果影响不大，可适用于各种材料内部检测。
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