




由于ic芯片比较精密主要由微型电子器件或部件构成。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗和高---性方面迈进了一大步。但越精密的电路,检测难度就越复杂。当前芯片检验的常用方法通常是将芯片层层剥开,再用电子显微镜对每一层表面进行拍摄,这样检测方式对芯片具有---破坏性,此时,x射线ct断层扫描,x-ray无损检测设备可提供解决方案。
无损检测又称无损探伤,是指利用材料内部结构异常或缺陷引起的变化,对各种工程材料、零部件、结构件以及热、声、光、电、磁等物理量的内部和表面缺陷进行检测。
x-ray检测设备所能检测的是x射线的穿透性与物质密度的关系,不同密度的物质可以通过差分吸收的性质来区分。因此,如果被检测物体破损、厚度不同、形状变化,对x射线的吸收不同,生成的图像也不同,就可以生成有区别的黑白图像,实现无损检测的目的。
在市面上,x-ray设备------小小的很多,其中不乏有ray的另立品牌。目前市场上进口机器品牌型号有:vitrox (伟特);omron欧姆龙; tri德律;keysight是德(agilent安捷伦) ;pony 、matrix、依科视朗等测试设备。
x-ray设备是通过高压加速电子撞击金属板释放出的x-ray穿透样品,留下影像,---通过影像的明暗度来观测样品的相关细节。可以检测pcb线路断开、ic缺陷、锡球开裂等一系列的异常。
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