




6. x射线成像技术在bga焊接检测中的应用
bga(球栅阵列封装)是一种典型的高密度封装技术,其特点是芯片引脚以球形焊点按阵列形式分布在封装下面,可使器件更小、引脚数更多、引脚间距、成品组装率更高和电性能---良。
目前bga焊接检测手段非常局限,常用的检测手段包括:目检、飞针电子测试、x射线检测、染色检测和切片检测。其中染色和切片检测为破坏性检测,可作为失效分析手段,axi检测机,不适于焊接检测。无损检测中目检仅能检测器件边缘的焊球,不能检测焊球内部缺陷;飞针电子测试误判率太高;而x射线检测利用x射线透射特性,可以---地检测隐藏在器件下方的焊球焊接情况,是目前很有效的bga焊接检测方法。
圣全科技是一家专门从事工业自动化设备、技术支持、售后服务、设备租赁、安装维护、方案开发和调试检查以及工装夹具设计制造的企业。
在机械工程中通常使用,破坏性测---于使用原材料的制造,用于成品和耗材,除非它们不准备继续使用,否则将无法执行破坏性测试,并且非破坏性测试不会损害被测物体的性i能。因此,它不仅可以检查原材料制造的整个过程,中间过程环节以及后面的产品,还可以检查使用中的设备。可以说,通过无损检测,许多行业产品的使用寿命---提高,性i能也得到了提高!
随着接点数的增多,测试编程和针床夹具的成本也呈指---数上升。开发测试程序和夹具通常需要几个星期的时间,更复杂的线路板可能还要一个多月。另外,增加ict接点数量会导致ict测试出错和重测次数的增多。aoi技术则不存在上述问题,它不需要针床,在计算机程序驱动下,---头分区域自动扫描pcb,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出pcb上缺陷。极短的测试程序开发时间和灵活性是aoi的优点。
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